Aehr Test Systems (AEHR)

Aehr ist vor allem für Lösungen bekannt, die Bauteile auf Wafer-, Die- und Package-Ebene testen und einem Burn-in unterziehen. Burn-in ist ein Zuverlässigkeitsverfahren, bei dem Chips unter kontrollierten Bedingungen belastet werden, um frühe Ausfälle auszusortieren. Diese Fähigkeit wird immer wichtiger, da Halbleiter in Anwendungen eingesetzt werden, bei denen Leistung und Haltbarkeit entscheidend sind, darunter Elektrofahrzeuge, Automobilelektronik für Leistungssysteme, Mobilitätssysteme, Dateninfrastruktur, optische Geräte sowie Speicher- und Logikprodukte.

Zu den Produktfamilien des Unternehmens gehören ABTS- und FOX-Systeme sowie zugehörige Werkzeuge und Verbrauchsmaterialien wie der FOX WaferPak Aligner, der FOX-XP WaferPak Contactor, der FOX DiePak Carrier und der FOX DiePak Loader. Diese Produkte unterstützen verschiedene Phasen des Produktionsablaufs und sollen Kunden dabei helfen, die Ausbeute zu verbessern, Ausfälle im Feld zu reduzieren und Bauteile für hochzuverlässige Anwendungen zu qualifizieren.

Aehr hat am Markt besondere Aufmerksamkeit aufgrund seines Engagements im Bereich Siliziumkarbid und anderer fortschrittlicher Halbleitertechnologien gewonnen, die in Elektrifizierung und Leistungswandlung eingesetzt werden. Da Chipdesigns komplexer werden und die Anforderungen der Endanwendungen steigen, benötigen Hersteller häufig anspruchsvollere Teststrategien. Die Nische von Aehr besteht darin, Anlagen bereitzustellen, mit denen viele Bauteile effizient getestet werden können und zugleich die Zuverlässigkeitsstandards unterstützt werden, die in den Automobil-, Industrie- und Kommunikationsmärkten erforderlich sind.